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J-GLOBAL ID：201003067378602592

眼科撮影装置

Inventor： 佐竹 倫全
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008283871
Publication number (International publication number)：2010110392
Application date： Nov. 05, 2008
Publication date： May. 20, 2010
Summary：

【課題】 被検眼の良好な断層画像もしくは正面画像を取得する。【解決手段】 光源から発せられた測定光を被検眼の所定部位上で走査させる走査手段と、測定光による反射光を受光する受光素子と、を有し、被検眼の断層画像又は正面画像を得るための撮影光学系と、受光素子からの受光信号に基づいて断層画像又は正面画像を取得する画像処理部と、を備える眼科撮影装置において、加算処理手段は、前記取得された各撮影画像を前記走査手段による前記測定光の走査方向に関して複数の領域に分割し、各撮影画像間の位置ずれを前記分割された領域毎に検出し位置ずれ情報を得る検出手段と、前記検出手段によって得られた前記位置ずれ情報に基づいて前記分割された領域毎に補正する補正手段と、を有し、前記補正手段によって補正された各撮影画像を加算し、平均化する。【選択図】 図6

Claim (excerpt)：

光源と、該光源から発せられた測定光を被検眼の所定部位上で走査させる走査手段と、 前記測定光による反射光を受光する受光素子と、を有し、被検眼の所定部位における断層画像又は正面画像を得るための撮影光学系と、 前記受光素子から出力される受光信号に基づいて断層画像又は正面画像を取得する画像処理部と、 を備える眼科撮影装置において、 所定の走査領域にて前記測定光が複数回走査されることによって前記画像処理部によって取得された複数の撮影画像を加算処理して平均化させる加算処理手段を備え、 該加算処理手段は、 前記取得された各撮影画像を前記走査手段による前記測定光の走査方向に関して複数の領域に分割し、各撮影画像間の位置ずれを前記分割された領域毎に検出し位置ずれ情報を得る検出手段と、 前記検出手段によって得られた前記位置ずれ情報に基づいて前記分割された領域毎に補正する補正手段と、を有し、 前記補正手段によって補正された各撮影画像を加算し、平均化することを特徴とする眼科撮影装置。

IPC (1)：

A61B 3/12

FI (1)：

A61B3/12 E

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 眼科撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-204425   Applicant：株式会社ニデック
• 光画像計測装置、光画像計測プログラム、眼底観察装置及び眼底観察プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-337628   Applicant：株式会社トプコン, 国立大学法人筑波大学