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J-GLOBAL ID：201003069460756142

眼科観察装置

Inventor： 山田 祥之
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009070798
Publication number (International publication number)：2010220771
Application date： Mar. 23, 2009
Publication date： Oct. 07, 2010
Summary：

【課題】 被検眼の経過観察を効率よく好適に行う。【解決手段】 眼科用光干渉断層計によって取得された眼底断層画像を記憶する記憶手段と、モニタと、表示制御部と、操作入力部と、を備える眼科観察装置において、表示制御部は、異なる検査日時にて取得された第1及び第2の断層画像をモニタ上における所定の表示範囲に並列して表示させると共に、第1の断層画像と第2の断層画像に関する眼底の所定部位における層の厚さの分布を示す層厚グラフをモニタ上に表示し、さらに、層厚グラフ上における所定の計測位置を示す第1の指標であって、操作入力部からの操作信号に基づいて表示位置が変更される第1の指標を層厚グラフ上に表示すると共に、第1の指標に対応する計測位置を示す第2の指標を第1の断層画像及び前記第2の断層画像上に表示する。【選択図】 図7

Claim (excerpt)：

眼科用光干渉断層計によって取得された被検眼眼底の断層画像を記憶する記憶手段と、記憶手段に記憶された断層画像を表示するモニタと、モニタの表示画面を制御する表示制御部と、検者によって操作入力される操作入力部と、を備える眼科観察装置において、 前記表示制御部は、異なる検査日時にて取得された第1の断層画像及び第2の断層画像を前記モニタ上における所定の表示範囲に並列して表示させると共に、 前記記憶手段に記憶された第1の断層画像と第2の断層画像に基づいて第1の断層画像と第2の断層画像に関する眼底の所定部位における層の厚さの分布を示す層厚グラフをモニタ上に表示し、さらに、 前記層厚グラフ上における所定の計測位置を示す第1の指標であって、前記操作入力部からの操作信号に基づいて表示位置が変更される第1の指標を前記層厚グラフ上に表示すると共に、該第1の指標に対応する計測位置を示す第2の指標を前記第1の断層画像及び前記第2の断層画像上に表示することを特徴とする眼科観察装置。

IPC (1)：

A61B 3/12

FI (1)：

A61B3/12 E