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J-GLOBAL ID：201003077274138660

変位量測定装置及び同測定方法

Inventor：
望月 規之

About 望月 規之

, 
小関 吉則

About 小関 吉則


Applicant, Patent owner：
サクサ株式会社

About サクサ株式会社


Agent (1)： 根本 恵司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009077060
Publication number (International publication number)：2010230423
Application date： Mar. 26, 2009
Publication date： Oct. 14, 2010
Summary：
【課題】変位量測定装置の精度を向上する。【解決手段】測定対象物に標識Dを取り付けて撮影する。最初に撮影した初期画面を基準画面として、基準画像を構成する画素に当該画素の輝度情報の重みを付けて、基準画像の中心位置座標を算出してその値と、画素数で表した面積とを記憶しておく、所定時間経過後に同様に測定対象物に標識Dを取り付けて撮影し、上記と同様の処理を得てその中心位置座標を算出し、その値と記憶した上記基準画像の中心位置座標を比較してその差(変位量)を求める。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
測定対象を撮影した撮影画像に基づき測定対象の変位量を測定する変位量測定装置であって、 前記撮影画像を処理する画像処理装置及び表示部を備え、 前記画像処理装置は、撮影した測定対象画像を構成する画素の輝度を測定する輝度測定部と、前記測定対象画像の画素の位置座標に前記輝度測定部で得た当該画素の輝度情報の重みを付けて前記測定対象画像の位置座標上での中心位置を算出する座標算出部と、予め蓄積した前記測定対象の基準画像の前記位置座標上での中心位置と算出された前記中心位置との変位量を比較判定し、判定した変位量を前記表示部に表示する比較判定部と、 を有することを特徴とする変位量測定装置。
IPC (2)：
G01C 11/06 ,  G01B 11/00
FI (2)：
G01C11/06 ,  G01B11/00 H
F-Term (13)：
2F065AA01 ,  2F065AA17 ,  2F065BB27 ,  2F065FF04 ,  2F065FF44 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS03 ,  2F065SS11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
  • 変位計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-056535   Applicant：株式会社ベーシックエンジニアリング
  • 変位測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-046484   Applicant：株式会社ベーシックエンジニアリング
  • カラーコード付き標識
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-289334   Applicant：株式会社トプコン
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Cited by examiner (6)
  • 変位計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-056535   Applicant：株式会社ベーシックエンジニアリング
  • 変位測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-046484   Applicant：株式会社ベーシックエンジニアリング
  • カラーコード付き標識
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-289334   Applicant：株式会社トプコン
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