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J-GLOBAL ID：201003081548588584

表面増強ラマン分光法、及び当該表面増強ラマン分光法を可能にする微細構造体

Inventor： 池田 勝佳 ,  魚崎 浩平 ,  猶原 秀夫
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 北海道大学 ,  トヨタ自動車株式会社
Agent (3)： 岸本 達人 ,  星野 哲郎 ,  山下 昭彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008187487
Publication number (International publication number)：2010025753
Application date： Jul. 18, 2008
Publication date： Feb. 04, 2010
Summary：

【課題】表面増強ラマン分光法、及び当該表面増強ラマン分光法を可能にする微細構造体を提供する。【解決手段】分析対象基板の表面に光を照射し、前記光の当該表面における散乱光を分光することにより前記散乱光のスペクトルを得る表面増強ラマン分光法であって、前記分析対象基板の表面には被膜が形成され、且つ、当該被膜の上方には金属ナノ粒子が配置され、且つ、前記被膜が、前記分析対象基板と前記金属ナノ粒子とのギャップを形成し、且つ、前記分析対象基板の、前記金属ナノ粒子が配置された面に光を照射することにより、前記分析対象基板と前記被膜との界面を観察することを特徴とする、表面増強ラマン分光法。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

分析対象基板の表面に光を照射し、前記光の当該表面における散乱光を分光することにより前記散乱光のスペクトルを得る表面増強ラマン分光法であって、 前記分析対象基板の表面には被膜が形成され、且つ、当該被膜の上方には金属ナノ粒子が配置され、且つ、前記被膜が、前記分析対象基板と前記金属ナノ粒子とのギャップを形成し、且つ、 前記分析対象基板の、前記金属ナノ粒子が配置された面に光を照射することにより、前記分析対象基板と前記被膜との界面を観察することを特徴とする、表面増強ラマン分光法。

IPC (1)：

G01N 21/65

FI (1)：

G01N21/65

F-Term (8)：

2G043AA03 ,  2G043CA07 ,  2G043EA03 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043JA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 微細構造体、微細構造体の作製方法、ラマン分光法、及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-334794   Applicant：富士フイルム株式会社