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J-GLOBAL ID：201003094340644736

設置誤差推定装置および設置誤差推定方法

Inventor： 田靡 雅基 ,  下島 崇 ,  安木 慎
Applicant, Patent owner： パナソニック株式会社
Agent (1)： 鷲田 公一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008302492
Publication number (International publication number)：2010127755
Application date： Nov. 27, 2008
Publication date： Jun. 10, 2010
Summary：

【課題】誤差のない高精度な測位を簡単な設置で実施可能にすることができる設置誤差推定装置を提供すること。【解決手段】設置誤差推定装置100は、無線タグ300を設置して測位する観測点毎に、理論上の測位分布を予想して得られた予想測位分布の特徴的なパターンを算出して得られた予想測位分布パターンを取得する予想パターン取得部(観測点設定部110および予想パターン計算部120)と、無線タグ300に対するタグリーダ200の測位結果を観測データとして入力する観測データ入力部130と、観測データに基づいて、観測点毎に、測位結果を統計的に解析して得られた計測測位分布の特徴的なパターンを計測測位分布パターンとして算出する散布パターン解析部140と、取得された予想測位分布パターンおよび算出された計測測位分布パターンを用いて、ダグリーダ200の設置誤差を算出する設置誤差推定部150とを有する。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

無線タグを測位するダグリーダの設置誤差を推定する設置誤差推定装置であって、 前記無線タグを設置して測位する観測点毎に、測位分布を予想して得られた予想測位分布の特徴的なパターンを算出して得られた予想測位分布パターンを取得する予想パターン取得部と、 前記無線タグに対する前記タグリーダの測位結果を観測データとして入力する観測データ入力部と、 前記観測データ入力部によって入力された観測データに基づいて、前記観測点毎に、測位結果を統計的に解析して得られた計測測位分布の特徴的なパターンを計測測位分布パターンとして算出する散布パターン解析部と、 前記予想パターン取得部によって取得された予想測位分布パターンおよび前記散布パターン解析部によって算出された計測測位分布パターンを用いて、前記ダグリーダの設置誤差を算出する設置誤差推定部と、 を有する設置誤差推定装置。

IPC (7)：

G01S 5/02 ,  G06K 17/00 ,  H04W 64/00 ,  H04W 4/02 ,  H04W 84/10 ,  H04B 1/59 ,  H04B 5/02

FI (7)：

G01S5/02 Z ,  G06K17/00 F ,  H04Q7/00 500 ,  H04Q7/00 104 ,  H04Q7/00 629 ,  H04B1/59 ,  H04B5/02

F-Term (14)：

5B058CA17 ,  5B058YA20 ,  5J062AA02 ,  5J062AA09 ,  5J062CC11 ,  5J062DD23 ,  5K012AB05 ,  5K012BA09 ,  5K067BB21 ,  5K067EE02 ,  5K067EE12 ,  5K067EE35 ,  5K067HH21 ,  5K067JJ57

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 測位方式及び測位システム及び無線基地局
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-376797   Applicant：株式会社日立製作所