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J-GLOBAL ID：201003095275331195

運動軌跡解析方法及び運動軌跡解析装置

Inventor：
西村 強

About 西村 強


Applicant, Patent owner：
国立大学法人鳥取大学

About 国立大学法人鳥取大学


Agent (3)： 山田 卓二 ,  田中 光雄 ,  川端 純市
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008212978
Publication number (International publication number)：2010047970
Application date： Aug. 21, 2008
Publication date： Mar. 04, 2010
Summary：
【課題】運動軌跡解析において、衝突後に入射方向に反射するという不自然な解析結果を得ることを防止する解析方法を提供する。【解決手段】情報処理装置1によって、接触点の法線方向及び接線方向にバネとダッシュポットを配置した接触モデルを用いて平面と衝突を繰り返しながら運動する物体の軌跡を解析する方法において、情報処理装置の制御手段11は、運動する物体が接触点に接触した後、非接触へ復帰する時点の接線方向の物体速度が正となるように決定された、接線方向に配置されたダッシュポットの減衰定数を記憶手段21に記憶しておき、記憶手段21から減衰定数を読み出し、読み出した減衰定数を用いて平面と衝突を繰り返しながら運動する物体の運動軌跡の解析を行う。【選択図】図11
Claim (excerpt)：
接触点に衝突しながら運動する物体の運動軌跡を、接触点の法線方向及び接線方向にバネとダッシュポットを配置した接触モデルを用いて解析する方法であって、 前記解析方法は情報処理装置の制御手段により実行され、 運動する物体が接触点に接触した後、非接触へ復帰する時点の物体の接線方向の速度成分が正となるように決定された、接線方向に配置されたダッシュポットの減衰定数を前記情報処理装置の記憶手段に記憶しておくステップと、 前記記憶手段から前記減衰定数を読み出すステップと、 前記読み出した減衰定数を用いて物体の運動軌跡の解析を行うステップと を含むことを特徴とする運動軌跡解析方法。
IPC (2)：
E01F 7/04 ,  G06F 19/00
FI (2)：
E01F7/04 ,  G06F19/00 110
F-Term (3)：
2D001PA06 ,  2D001PC03 ,  2D001PF00
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (1)

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