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J-GLOBAL ID:201003098086937286

検出方法、検出装置、検出用試料セルおよび検出用キット

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008168251
Publication number (International publication number):2010008247
Application date: Jun. 27, 2008
Publication date: Jan. 14, 2010
Summary:
【課題】被検出物質を極めて高感度に検出可能な検出方法および装置を得る。【解決手段】誘電体プレート11の一面に少なくとも金属層12を含むセンサ部14を有してなるセンサチップ10を用い、センサ部14に試料を接触させることにより、センサ部14上に、試料に含有される被検出物質Aの量に応じた量の蛍光標識結合物質BFを結合させ、センサ部14に励起光Loを照射し、励起光Loの照射によりセンサ部14上の電場を増強させ、増強された電場D内における、蛍光標識結合物質BFの蛍光標識の励起に起因して生じる光の量に基づいて、被検出物質の量を検出する検出方法において、蛍光標識結合物質BFに磁性微粒子Mを付与し、誘電体プレート11の他面側に配置された磁界印加手段35により、磁性微粒子Mが修飾された蛍光標識結合物質BFを誘電体プレート11のセンサ部14近傍に引き寄せた状態で被検出物質Aの量を検出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
誘電体プレートと、該プレートの一面に少なくとも金属層が設けられてなるセンサ部とからなるセンサチップを用意し、 前記センサ部に試料を接触させることにより、該センサ部上に、該試料に含有される被検出物質の量に応じた量の蛍光標識結合物質を結合させ、 前記センサ部に励起光を照射し、該励起光の照射により該センサ部上に増強された電場を生じさせ、該増強された電場内における、前記蛍光標識結合物質の蛍光標識の励起に起因して生じる光の量に基づいて、前記被検出物質の量を検出する検出方法において、 前記蛍光標識結合物質に磁性微粒子を付与し、 前記誘電体プレートの前記一面と対向する他面側に配置された磁界印加手段により、前記磁性微粒子が修飾された前記蛍光標識結合物質を前記誘電体プレートの前記センサ部近傍に引き寄せた状態で前記被検出物質の量を検出することを特徴とする検出方法。
IPC (2):
G01N 21/64 ,  G01N 33/543
FI (3):
G01N21/64 G ,  G01N33/543 595 ,  G01N21/64 F
F-Term (20):
2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA01 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043GA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043GB05 ,  2G043GB16 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (2)
  • 微小物質検鏡装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-244328   Applicant:オリンパス光学工業株式会社
  • 蛍光免疫分析方法及び装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-193536   Applicant:科学技術振興事業団

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