Art

J-GLOBAL ID：201102154460298030   Reference number：11A0450201

Reconstruction of the electric charge density in thin films from the contrast transfer function measurements

コントラスト伝達関数測定からの薄膜における電荷密度の再構築

Author (3)： DANOV K ,  DANEV R ,  NAGAYAMA K
Material： ULTRAMICROSCOPY
Volume： 90  Issue： 2-3  Page： 85-95  Publication year： 2002 
JST Material Number： O6516A  ISSN： 0304-3991  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (5)： コントラスト ,  伝達関数 ,  薄膜 ,  電荷密度 ,  再構築