Art

J-GLOBAL ID：201102181009760967   Reference number：11A0094168

A study of the mechanism of the growth and shrinkage of stacking fault tetrahedra using the fluctuation of their size under electron irradiation

電子照射中のサイズ変動を利用した四面体積層欠陥の成長と収縮のメカニズム研究

Author (5)： ARAKAWA K ,  ARAI S ,  ORIHARA H ,  ONO K ,  KIRITANI M
Material： JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
Volume： 51  Page： S225-S229  Publication year： 2002 
JST Material Number： O3600A  ISSN： 0022-0744  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (8)： 電子照射 ,  サイズ ,  四面体 ,  積層欠陥 ,  成長 ,  収縮 ,  メカニズム ,  研究