Art

J-GLOBAL ID：201102188503086149   Reference number：11A0450138

DUAL-ION BEAM IRRADIATION SYSTEM INTERFACED WITH A TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE AND THE OBSERVATION OF DEFECT EVOLUTION IN NI DURING IRRADIATION

照射の間、Niで伝染電顕と障害進化論の観察と連結される二重イオン・ビーム照射システム

Author (2)： ISHIKAWA N ,  FURUYA K
Material： ULTRAMICROSCOPY
Volume： 56  Issue： 1-3  Page： 211-215  Publication year： 1994 
JST Material Number： O6516A  ISSN： 0304-3991  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (8)： Ni ,  伝染 ,  電顕 ,  障害 ,  進化 ,  観察 ,  重イオン ,  ビーム