Art

J-GLOBAL ID：201102200822423581   Reference number：11A0094548

Low capture switching activity test generation for reducing IR-drop in at-speed scan testing

実速度スキャンテスティングにおけるIRドロップ低減のための低キャプチャスイッチング動作テスト生成

Author (7)： WEN X ,  MIYASE K ,  SUZUKI T ,  KAJIHARA S ,  WANG LT ,  SALUJA KK ,  KINOSHITA K
Material： JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
Volume： 24  Issue： 4  Page： 379-391  Publication year： 2008 
JST Material Number： O3604A  ISSN： 0923-8174  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (3)： Ir ,  ドロップ ,  テスト生成