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J-GLOBAL ID：201102210309838364   Reference number：11A1159947

Random Telegraph Noise in 45-nm CMOS: Analysis Using an On-Chip Test and Measurement System

45nm CMOSにおけるランダムテレグラフノイズ:オンチップテスト及び測定システムを用いた分析

Author (2)： REALOV Simeon (Columbia Univ., NY) ,  SHEPARD Kenneth L. (Columbia Univ., NY)
Material： Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (IEEE International Electron Devices Meeting)
Volume： 2010  Page： 624-627  Publication year： 2010 
JST Material Number： C0829B  ISSN： 0163-1918  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *random noise ,  radio noise ,  *CMOS structure ,  *noise measurement(signal) ,  current-voltage characteristic ,  hidden Markov model ,  data analysis ,  residence time ,  gate(semiconductor)

JST classification (2)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  Noise measurement  (ND04030F)

Terms in the title (4)： CMOS ,  ランダムテレグラフノイズ ,  測定システム ,  分析