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J-GLOBAL ID：201102218557872294   Reference number：11A0665965

Quality and Reliability Integration Technology in Automotive Semiconductor Products

車載用半導体製品の品質・信頼性の作り込み

Author (3)： YAMAGUCHI KOJI (富士電機システムズ 松本製作所) ,  MASUBUCHI HAJIME (富士電機システムズ 松本製作所) ,  OKAMOTO TAISAKU (富士電機システムズ 松本製作所)
Material： 富士時報  (Fuji Electric Journal)
Volume： 84  Issue： 2  Page： 127-131  Publication year： Mar. 10, 2011 
JST Material Number： F0080A  ISSN： 0367-3332  CODEN： FUJIA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *electric equipment ,  *semiconductor device ,  *quality control ,  quality assurance ,  reliability(property) ,  *automobile ,  IGBT ,  lifetime evaluation ,  simulation ,  accident prevention ,  *quality engineering
Semi thesaurus term： detectivity ,  reliability engineering

JST classification (2)： Solic-state devices in general  (NC03010Z) ,  Electric equipment  (QG03070C)

Reference (3)：

• 藤平龍彦, 奥村勝富士電機の自動車用半導体の現状と展望. 富士時報.2003, vol.76, no.10, p. 588-594.
• 両角朗ほか. パワー半導体モジュールにおける信頼性設計技術. 富士時報.2001, vol.74, no.2, p. 145-148.
• 両角朗ほか. 電気自動車用高信頼性パワーモジュール技術. 富士時報.2003, vol.76, no.10, p. 630-633.

Terms in the title (1)： 車載