Art

J-GLOBAL ID：201102228319278916   Reference number：11A0842415

Development of an Efficient Ion Detection Technique for Microscope Mode Imaging Mass Spectrometry Using a Delay Line Detector

ディレイライン検出器を用いた投影型イメージング質量分析における有効な信号処理技術の開発

Author (3)： HAYASHI MASAHIRO (光産業創成大学院大学) ,  HAYASHI MASAHIRO (浜松ホトニクス株式会社電子管事業部) ,  NAITO YASUHIDE (光産業創成大学院大学)
Material： Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan  (質量分析)
Volume： 59  Issue： 2  Page： 23-33 (J-STAGE)  Publication year： 2011 
JST Material Number： G0046A  ISSN： 1340-8097  CODEN： JMSJEY  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *MALDI-TOF MS ,  *image processing ,  *detector ,  *signal processing ,  microscopy ,  optical microscope ,  projective method ,  spatial distribution ,  visualization ,  ion ,  analog to digital converter ,  data transfer ,  incidence ,  ion source ,  laser pulse ,  data collection ,  software ,  dead time ,  feature extraction ,  aromatic amine ,  polyene ,  quinoid compound ,  immonium ,  enone ,  alicyclic ketone ,  diamine ,  tertiary amine ,  nitrogen heterocyclic compound ,  sulfonium ,  sulfur heterocyclic compound ,  polynuclear aromatic compound ,  *TOF
Semi thesaurus term： *imaging mass spectrometry ,  *Delay line detector ,  profiling ,  position detection

JST classification (3)： Mass spectrometry  (CC03013N) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I) ,  Analytical instruments  (CC02020S)

Substance index (3)： Crystal Violet ,  Toluidine blue ,  Methylene blue

Reference (17)：

• 1) P. Chaurand, M. Stoeckli, and R. M. Caprioli, Anal. Chem., 71, 5263 (1999).
• 2) J. C. Jurchen, S. S. Rubakhin, and J. V. Sweedler, J. Am. Soc. Mass Spectrom., 16, 1654 (2005).
• 3) L. A. McDonnell and R. M. A. Heeren, Mass Spectrom. Rev., 26, 606 (2007).
• 4) T. Harada, A. Yuba-Kudo, Y. Sugiura, N. Zaima, T. Hayasaka, N. Goto-Inoue, M. Wakui, M. Suematsu, K. Takeshita, K. Ogawa, Y. Yoshida, and M. Setou, Anal. Chem., 81, 9153 (2009).
• 5) H. Hazama, J. Aoki, H. Nagao, R. Suzuki, T. Tashima, K. Fujii, K. Masuda, K. Awazu, M. Toyoda, and Y. Naito, Appl. Surf. Sci., 255, 1257 (2008).

Terms in the title (6)： ディレイライン ,  検出器 ,  投影 ,  イメージング質量分析 ,  信号処理 ,  開発