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J-GLOBAL ID：201102229214862821   Reference number：11A1335898

Visualization of Single Atomic Steps on An Ultra-Flat Si(100) Surface by Advanced Differential Interference Contrast Microscopy

改良型微分干渉コントラスト顕微鏡による超平坦Si(100)面上の単一原子ステップの可視化

Author (11)： KOBAYASHI Shin-Ichiro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KIM Youn-Geun (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  WEN Rui (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  YASUDA Kohei (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  FUKIDOME Hirokazu (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SUWA Tomoyuki (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KURODA Rihito (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  LI Xiang (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TERAMOTO Akinobu (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  OHMI Tadahiro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ITAYA Kingo (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
Material： Electrochemical and Solid-State Letters  (Electrochem Solid-State Lett)
Volume： 14  Issue： 9  Page： H351-H353  Publication year： 2011 
JST Material Number： W1290A  ISSN： 1099-0062  CODEN： ESLEF6  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *interference microscope ,  contrast ,  *confocal microscope ,  silicon ,  *surface steps ,  *visualization ,  *differential interference microscope
Semi thesaurus term： silicon

JST classification (3)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  Inorganic compounds and elements in general  (CD01010D) ,  Other physical chemistry in general  (CB01030T)

Terms in the title (8)： 微分 ,  干渉 ,  コントラスト ,  顕微鏡 ,  平坦 ,  Si ,  単一原子 ,  可視化