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J-GLOBAL ID：201102267474018365   Reference number：11A1133717

Hard-X-ray Phase-Difference Microscopy with a Low-Brilliance Laboratory X-ray Source

研究室用低輝度X線源による硬X線位相差顕微鏡法

Author (5)： KUWABARA Hiroaki (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  YASHIRO Wataru (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  HARASSE Sebastien (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  MIZUTANI Haruo (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  MOMOSE Atsushi (Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 4  Issue： 6  Page： 062502.1-062502.3  Publication year： Jun. 25, 2011 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *X-ray source ,  *phase contrast microscope ,  hard X-ray ,  *zone plate ,  image ,  phase grating
Semi thesaurus term： *FZP ,  phase image ,  透過格子

JST classification (1)： Optical microscopes,telescopes  (QF05050R)

Reference (34)：

• SAKDINAWAT, A. Nat. Photonics. 2010, 4, 840
• FITZGERALD, R. Phys. Today. 2000, 53, 7, 23
• MOMOSE, A. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, 6355
• NUGENT, K. A. Adv. Phys. 2010, 59, 1
• LEITENBERGER, W. Opt. Commun. 2000, 180, 233

Terms in the title (5)： 研究 ,  低輝度 ,  X線源 ,  硬X線 ,  位相差顕微鏡法