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J-GLOBAL ID：201102269225385229   Reference number：11A1159948

Statistical Characterization of Trap Position, Energy, Amplitude and Time Constants by RTN Measurement of Multiple Individual Traps

多重個別トラップのRTN測定によるトラップ位置,エネルギー,振幅及び時定数の統計的キャラクタリゼーション

Author (4)： NAGUMO Toshiharu (Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN) ,  TAKEUCHI Kiyoshi (Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN) ,  HASE Takashi (Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN) ,  HAYASHI Yoshihiro (Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
Material： Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (IEEE International Electron Devices Meeting)
Volume： 2010  Page： 628-631  Publication year： 2010 
JST Material Number： C0829B  ISSN： 0163-1918  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *radio noise ,  *random noise ,  *noise measurement(signal) ,  carrier capture ,  *CMOS structure ,  mutual conductance ,  scaling ,  voltage fluctuation ,  dopant ,  reliability(property) ,  SRAM ,  circuit design ,  energy distribution
Semi thesaurus term： threshold voltage

JST classification (2)： Noise measurement  (ND04030F) ,  Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (7)： 多重 ,  トラップ ,  エネルギー ,  振幅 ,  時定数 ,  統計 ,  キャラクタリゼーション