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J-GLOBAL ID：201102273916168973   Reference number：11A0309179

Radiation damage of Si photodiodes by high-temperature irradiation

高温照射によるSiフォトダイオードの照射損傷

Author (7)： OHYAMA H ,  TAKAKURA K ,  SHIGAKI K ,  KUBOYAMA S ,  MATSUDA S ,  SIMOEN E ,  CLAEYS C
Material： MICROELECTRONIC ENGINEERING
Volume： 66  Issue： 1-4  Page： 536-541  Publication year： 2003 
JST Material Number： O4682A  ISSN： 0167-9317  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (3)： Si ,  フォトダイオード ,  照射損傷