Art

J-GLOBAL ID：201102277428021144   Reference number：11A0193682

Grains and grain boundaries in single-layer graphene atomic patchwork quilts

単層グラフェン原子パッチワークキルトにおける結晶粒と粒界

Author (16)： HUANG Pinshane Y. (Cornell Univ., New York, USA) ,  RUIZ-VARGAS Carlos S. (Cornell Univ., New York, USA) ,  ALDEN Jonathan S. (Cornell Univ., New York, USA) ,  ZHU Ye (Cornell Univ., New York, USA) ,  MULLER David A. (Cornell Univ., New York, USA) ,  VAN DER ZANDE Arend M. (Cornell Univ., New York, USA) ,  WHITNEY William S. (Cornell Univ., New York, USA) ,  MCEUEN Paul L. (Cornell Univ., New York, USA) ,  LEVENDORF Mark P. (Cornell Univ., New York, USA) ,  GARG Shivank (Cornell Univ., New York, USA) ,  PARK Jiwoong (Cornell Univ., New York, USA) ,  KEVEK Joshua W. (Oregon State Univ., Oregon, USA) ,  HUSTEDT Caleb J. (Brigham Young Univ., Utah, USA) ,  PARK Jiwoong (Kavli Inst. at Cornell for Nanoscale Sci., New York, USA) ,  MCEUEN Paul L. (Kavli Inst. at Cornell for Nanoscale Sci., New York, USA) ,  MULLER David A. (Kavli Inst. at Cornell for Nanoscale Sci., New York, USA)
Material： Nature (London)  (Nature (Lond))
Volume： 469  Issue： 7330  Page： 389-392  Publication year： Jan. 20, 2011 
JST Material Number： D0193B  ISSN： 0028-0836  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *monolayer ,  polycrystal ,  *crystal grain ,  *grain boundary ,  transmission electron microscope ,  resolving power ,  *electrical property ,  *mechanical strength ,  *electron microscopy ,  *graphene
Semi thesaurus term： transmission electron microscope ,  atomic resolution

JST classification (2)： Electric conduction in crystalline semiconductors  (BM03043X) ,  Mechanical properties of solids in general  (BL01021C)

Terms in the title (4)： 単層グラフェン ,  原子 ,  結晶粒 ,  粒界