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J-GLOBAL ID：201102291228254090   Reference number：11A1368052

X線偏光撮像を目指した湾曲Si結晶の曲率制御,偏光検出能力評価

Author (7)： OKADA KOTA (中央大) ,  TOKUNO ATSUSHI (中央大) ,  AWAYA TAKASHI (中央大) ,  TSUBOI YOKO (中央大) ,  IIZUKA RYO (中央大) ,  KUSUNOKI SHINGO (中央大) ,  MURAKAMI HIROAKI (中央大)
Material： 日本天文学会年会講演予稿集
Volume： 2011  Issue： 秋季  Page： 296  Publication year： Aug. 20, 2011 
JST Material Number： S0300B  ISSN： 1347-0639  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *polarimeter ,  DLC film ,  reflectivity ,  characteristic X-ray ,  Iron ,  *curvature ,  *cosmic X-ray source ,  X-ray polarization ,  *X-ray polarimeter ,  bent crystal ,  X-ray reflectivity ,  reflectance measurement
Semi thesaurus term： characteristic X-ray

JST classification (1)： Astronomy and astrophysics in general  (DB03000B)

Terms in the title (8)： X線偏光 ,  撮像 ,  湾曲 ,  Si結晶 ,  曲率 ,  偏光 ,  検出能力 ,  評価