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J-GLOBAL ID：201102295337511970   Reference number：11A0094537

Annealing effects of a high-quality ZnTe substrate

高品質のZnTe基質の焼鈍し効果

Author (6)： YOSHINO K ,  YONETA M ,  OHMORI K ,  SAITO H ,  OHISHI M ,  YABE T
Material： JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
Volume： 33  Issue： 6  Page： 579-582  Publication year： 2004 
JST Material Number： O3603A  ISSN： 0361-5235  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (4)： 高品質 ,  ZnTe ,  基質 ,  焼鈍し