画像表示装置、X線CT装置およびプログラム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：伊藤信和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009269958
Publication number (International publication number)：2011110245
Application date： Nov. 27, 2009
Publication date： Jun. 09, 2011
Summary：

【課題】デュアルエネルギー撮影による画像を基に、被検体の画像での物質判別に関し、詳細な解析と概略的な物質判別とが共に可能な情報を出力する画像表示装置を提供する。【解決手段】物質と画素値との対応関係が互いに異なる第1および第2の画像Gw,Gioを取得する画像取得手段と、横軸を第1の画像Gwでの画素値Wg、縦軸を第2の画像Gioでの画素値Igとする座標空間Kwiに、画像Gw,Gioにおける互いに対応する各画素の画素値に対応する点がプロットされた散布図Gg1を生成する散布図生成手段と、座標空間Kwiに、画像Gw,Gioにおいて互いに対応する画素の画素値に対応する点をプロットした場合に、所定の各物質を示すと推定されるプロット範囲Rc,Rio,...を記憶する記憶手段と、散布図Gg1とプロット範囲Rc,Rio,...を表す画像とを重ねて表示する表示手段とを備える構成とする。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

第1のX線による被検体の第1の投影データと、前記第1のX線とはエネルギースペクトルが異なる第2のX線による前記被検体の第2の投影データとに基づく第1および第2の画像であって、それぞれが前記被検体の所定の部位に対応しており、物質と画素値との対応関係が互いに異なる第1および第2の画像を取得する画像取得手段と、横軸および縦軸の一方の軸を前記第1の画像における画素値とし、他方の軸を前記第2の画像における画素値とする座標空間に、前記所定の部位に対応する画像空間における所定領域の各画素位置について、前記第1および第2の画像の画素値に対応する点がプロットされた図を生成する図生成手段と、前記座標空間に前記第1および第2の画像の画素値に対応する点をプロットした場合に、所定の物質を示すと推定されるプロット範囲を、少なくとも1つの物質について記憶するプロット範囲記憶手段と、前記図と前記プロット範囲を表す画像とを重ねて表示する表示手段とを備えている画像表示装置。

IPC (1)：

A61B 6/03

FI (3)：

A61B6/03 373 , A61B6/03 370G , A61B6/03 360P

F-Term (12)：

4C093AA22 , 4C093CA22 , 4C093EA07 , 4C093FA15 , 4C093FA59 , 4C093FD12 , 4C093FF28 , 4C093FF32 , 4C093FF34 , 4C093FF36 , 4C093FG01 , 4C093FG14

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

X線CT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-112899 Applicant：株式会社日立メディコ
計算機式断層写真法の方法及びシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-290435 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

Cited by examiner (2)

X線CT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-112899 Applicant：株式会社日立メディコ
計算機式断層写真法の方法及びシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-290435 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

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