Pat
J-GLOBAL ID:201103013145254556

異常陰影候補検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2001246671
Publication number (International publication number):2003052673
Patent number:4628608
Application date: Aug. 15, 2001
Publication date: Feb. 25, 2003
Claim (excerpt):
【請求項1】 任意の規格化条件に基づいて規格化処理が施された医用画像データに対し、前記任意の規格化条件を参照して前記医用画像の原画像データを取得するとともに、該取得した原画像データに対して予め設定された基準規格条件に基づいて規格化処理を施して再規格化医用画像データを取得する再規格化処理を施す再規格化処理手段と、 該再規格化処理手段により得られた再規格化医用画像データに基づいて、前記医用画像データに基づく医用画像中の異常陰影候補を検出する異常陰影候補検出手段とを備えたことを特徴とする異常陰影候補検出装置。
IPC (6):
A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  G06T 5/00 ( 200 6.01) ,  G06T 5/20 ( 200 6.01) ,  G06T 7/00 ( 200 6.01) ,  H04N 1/407 ( 200 6.01)
FI (7):
A61B 6/00 350 M ,  A61B 6/00 350 D ,  G06T 1/00 290 A ,  G06T 5/00 100 ,  G06T 5/20 A ,  G06T 7/00 200 C ,  H04N 1/40 101 E
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (11)
Show all
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page