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J-GLOBAL ID：201103015663382080

昇温脱離分析方法および昇温脱離分析装置

Inventor： 東 康弘 ,  藤本 憲宏
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (3)： 山川 政樹 ,  山川 茂樹 ,  黒川 弘朗
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010120261
Publication number (International publication number)：2011247713
Application date： May. 26, 2010
Publication date： Dec. 08, 2011
Summary：

【課題】固体試料中の成分の活性化エネルギーの値を得ることを容易にする。【解決手段】昇温脱離分析装置は、固体試料202を昇温する昇温手段となる赤外線ランプ203と、赤外線ランプ203に流す電流値を制御して固体試料202の温度を制御する温度コントローラ207とを備える。昇温中の固体試料202の温度を、時間を変数とする第一の関数とし、ある正数を基数とし第一の関数の逆数を指数とする第二の関数が時間により積分可能であって、かつ第二の関数の原始関数が初等関数となるように、第一の関数を与える。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

固体試料を昇温し、この固体試料の昇温中に固体試料から発生するガスを検出して、ガスの検出結果から固体試料中の成分を分析する昇温脱離分析方法において、 固体試料を昇温する昇温ステップを備え、 昇温中の固体試料の温度を、時間を変数とする第一の関数とし、ある正数を基数とし前記第一の関数の逆数を指数とする第二の関数が時間により積分可能であって、かつ前記第二の関数の原始関数が初等関数となるように、前記第一の関数を与えることを特徴とする昇温脱離分析方法。

IPC (2)：

G01N 25/14 ,  G01N 25/36

FI (2)：

G01N25/14 D ,  G01N25/36

F-Term (6)：

2G040AA02 ,  2G040AB11 ,  2G040BA25 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040EB02