Pat
J-GLOBAL ID：201103019376846306
自閉症診断支援用装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
長谷川 芳樹
, 近藤 伊知良
, 諏澤 勇司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011075324
Publication number (International publication number)：2011206542
Application date： Mar. 30, 2011
Publication date： Oct. 20, 2011
Summary：
【課題】信頼度の高い診断データを迅速に得ることが可能な自閉症診断支援用装置を提供すること。【解決手段】本発明にかかる自閉症診断支援用装置1は、被験者が対象者を見る状態によって自閉症の特徴を検出する自閉症診断支援用装置であって、対象者を見る被験者の視線方向を検出する注視点検出部2と、対象者の画像を撮影するカラーカメラ3と、対象者の瞳孔座標を計測する瞳孔位置検出部4と、視線方向と瞳孔座標とを用いて被験者の視線方向と対象者の瞳孔位置との関係を演算して、対象者の画像と共に出力するデータ解析部7と、を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被験者が対象者を見る状態によって自閉症の特徴を検出する自閉症診断支援用装置であって、
前記対象者を見る前記被験者の視線方向を検出する視線検出部と、
前記対象者の画像を撮影するカメラと、
前記対象者の瞳孔座標を計測する瞳孔位置検出部と、
前記視線方向と前記瞳孔座標とを用いて前記被験者の視線方向と前記対象者の瞳孔位置との関係を演算して、前記対象者の画像と共に出力するデータ解析部と、
を備えることを特徴とする自閉症診断支援用装置。
IPC (2)：
FI (2)：
Return to Previous Page
