Pat

J-GLOBAL ID：201103023493818655

表面プラズモン共鳴測定用チップ

Inventor： 片山 亮 ,  田内 裕基 ,  藤井 秀夫 ,  中井 淳一
Applicant, Patent owner： 株式会社神戸製鋼所
Agent (5)： 植木 久一 ,  植木 久彦 ,  菅河 忠志 ,  伊藤 浩彰 ,  竹岡 明美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010115792
Publication number (International publication number)：2011242306
Application date： May. 19, 2010
Publication date： Dec. 01, 2011
Summary：

【課題】優れた耐ハロゲン性を有し、且つ反射光強度の低減が抑制されて純Ag膜と同等の反射光強度を備えたAg合金膜を使用したSPR測定用チップを提供する。【解決手段】本発明の表面プラズモン測定用チップは、透明誘電体基板の上に、Ag合金膜を備えており、前記Ag合金膜にBiを含んでいる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

透明誘電体基板の上に、Ag合金膜を備えた表面プラズモン共鳴測定用チップであって、前記Ag合金膜はBiを含むことを特徴とする表面プラズモン共鳴測定用チップ。

IPC (1)：

G01N 21/27

FI (1)：

G01N21/27 C

F-Term (11)：

2G059BB02 ,  2G059BB05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC17 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK01