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J-GLOBAL ID：201103024774627103

二次電池の検査装置、二次電池の検査方法、二次電池の製造方法

Inventor： 阿久津 智美 ,  山崎 大輔 ,  友定 伸浩 ,  木村 篤史 ,  川野 誠 ,  虎井 総一朗 ,  矢野 哲夫
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011197065
Publication number (International publication number)：2011252930
Application date： Sep. 09, 2011
Publication date： Dec. 15, 2011
Summary：

【課題】二次電池とくにリチウムイオン二次電池のSEI膜の状態を把握することができる二次電池の検査装置等を提供する。【解決手段】インピーダンス取得手段は、二次電池のインピーダンスを取得する。判定手段は、インピーダンス取得手段により取得されたインピーダンスに基づいて、二次電池のSEI膜の状態を判定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

インピーダンス特性に基づいて二次電池の状態を検査する二次電池の検査装置において、 二次電池のインピーダンスを取得するインピーダンス取得手段と、 前記インピーダンス取得手段により取得された前記インピーダンスに基づいて、前記二次電池のSEI膜の状態を判定する判定手段と、を備える ことを特徴とする二次電池の検査装置。

IPC (3)：

G01R 31/36 ,  H01M 10/42 ,  H01M 10/48

FI (3)：

G01R31/36 A ,  H01M10/42 Z ,  H01M10/48 P

F-Term (10)：

2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  5H030AA10 ,  5H030AS20 ,  5H030FF41 ,  5H030FF43

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• リチウム二次電池用電解質及びこれを含むリチウム二次電池
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-202704   Applicant：三星エスディアイ株式会社