分光蛍光光度計

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：ポレール特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009205534
Publication number (International publication number)：2011058818
Application date： Sep. 07, 2009
Publication date： Mar. 24, 2011
Summary：

【課題】分光蛍光光度計において、3次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度の2次元グラフ上の、サンプルの蛍光とは異質の光として観測される光が現れる波長領域を表示除外領域として自動的に描画して、サンプル自身の蛍光を瞬時に容易に識別する。【解決手段】3次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による2次元グラフ上に、励起光の散乱光とn次光、1/n次光の波長領域、溶媒のラマン散乱光とn次光、1/n次光の波長領域、蛍光の存在しないアンチストークス領域を自動的に計算してグラフ上に描画する機能を備え、サンプル自身の蛍光ピークを瞬時に間違いなく識別する。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。

IPC (1)：

G01N 21/64

FI (1)：

G01N21/64 Z

F-Term (10)：

2G043CA03 , 2G043CA05 , 2G043EA01 , 2G043FA06 , 2G043HA09 , 2G043JA01 , 2G043MA01 , 2G043NA01 , 2G043NA05 , 2G043NA06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

三次元スペクトル表示装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-290910 Applicant：株式会社日立製作所
特開平4-157350
蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-252409 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ

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