計測装置及び計測方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：加藤久 , 久保山隆
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2011517267
Publication number (International publication number)：2011527222
Application date： Jul. 07, 2009
Publication date： Oct. 27, 2011
Summary：

本計測装置及び本計測方法は、複数の磁場発生手段間を移動する計測対象物を停止させることにより生じていた負荷をなくすことが可能である。本計測装置は、所定の大きさの磁場を発生させる第1の外部磁場発生装置と、この第1の外部磁場発生装置の磁場の大きさと異なる大きさの磁場を発生させる第2の外部磁場発生装置と、前記計測対象物を回転移動させることにより、前記計測対象物を第1及び第2の外部磁場発生装置の磁場中を順に通過させる回転テーブルと、回転テーブルにより前記計測対象物が回転移動している間に前記計測対象物の機能画像または形態画像などの画像を計測するOMRI計測処理部及びMRI計測処理部と、を有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

所定の大きさの磁場を発生させる第1の磁場発生手段と、前記第1の磁場発生手段の磁場の大きさと異なる大きさの磁場を発生させる第2の磁場発生手段と、計測対象物、または、前記第1及び第2の磁場発生手段を回転移動させることにより、前記計測対象物を前記第1及び第2の磁場発生手段の磁場中を順に通過させる回転移動手段と、前記回転移動手段によって前記計測対象物または前記第1及び第2の磁場発生手段が回転移動している間に、前記計測対象物または前記第1及び第2の磁場発生手段を停止させることなく、前記計測対象物中の画像を異なる磁場下で計測する計測手段と、を有する計測装置。

IPC (2)：

A61B 5/055 , G01R 33/30

FI (3)：

A61B5/05 400 , A61B5/05 390 , G01N24/02 510Y

F-Term (6)：

4C096AA02 , 4C096AA18 , 4C096AB47 , 4C096AD18 , 4C096EB02 , 4C096EB06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

複数の撮像システムを有する多重検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-325970 Applicant：シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト
磁気共鳴イメージング装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-148333 Applicant：株式会社日立メディコ
生体計測装置及びその方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-020556 Applicant：国立大学法人九州大学

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