Pat

J-GLOBAL ID：201103030114057703

光検出器の変調周波数特性測定装置及び測定方法

Inventor： 吉岡 正裕 ,  佐藤 宗純
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003380808
Publication number (International publication number)：2005147685
Patent number：4009726
Application date： Nov. 11, 2003
Publication date： Jun. 09, 2005
Claim (excerpt)：

【請求項1】 変調半導体レーザからの強度変調光を、該変調半導体レーザの変調周波数とは異なる変調周波数で再度強度変調する外部光変調器と、電気信号を測定する周波数分析装置とを備えており、 被測定対象である光検出器に前記再度強度変調した光を受光させて変換した電気信号を、前記周波数分析装置で前記二つの異なる変調周波数の和と差である周波数成分を取り出して測定し、前記二つの変調周波数を変えることで任意の変調周波数の特性を測定できることを特徴とする変調周波数特性測定装置。

IPC (2)：

G01M 11/00 ( 200 6.01) ,  H01L 31/10 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01M 11/00 T ,  H01L 31/10 Z