Pat
J-GLOBAL ID:201103030770040167

質量分析システムおよび分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 速水 進治
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2005503622
Patent number:4074921
Application date: Mar. 15, 2004
Claim (excerpt):
【請求項1】試料の通る流路および該流路に設けられた試料分離領域を有するマイクロチップと、 前記試料分離領域に沿って光照射位置を移動させながらレーザー光を照射する光照射手段と、 光照射により生じた前記試料のフラグメントを解析し、質量分析データを得る解析手段と、 を備え、 前記流路が基板の表面に設けられており、前記試料分離領域は複数の柱状体を有し、 前記柱状体を有する前記試料分離領域に前記レーザー光が照射され、 前記試料分離領域は、複数の前記柱状体が配設された柱状体配設部を複数含み、隣接する前記柱状体配設部間に前記試料が通過するパスが設けられたことを特徴とする質量分析システム。
IPC (4):
G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  G01N 27/64 ( 200 6.01) ,  G01N 27/447 ( 200 6.01) ,  G01N 30/72 ( 200 6.01)
FI (4):
G01N 27/62 F ,  G01N 27/64 B ,  G01N 27/26 331 E ,  G01N 30/72 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平4-040367
  • 特開昭63-318061
  • 試料分析方法及び装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-077763   Applicant:株式会社日立製作所
Show all
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • “ESI-FTICR MS With Infrared Multiphoton Dissociation : Analysis of Fragmentation of Peptides”

Return to Previous Page