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J-GLOBAL ID：201103031450450282

化学物質発光評価方法及びその方法を実行する化学物質発光評価装置

Inventor： 池田 浩 ,  松井 康哲 ,  水野 一彦 ,  秋元 郁子 ,  神野 賢一
Applicant, Patent owner： 公立大学法人大阪府立大学
Agent (1)： 鹿島 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009188501
Publication number (International publication number)：2011038974
Application date： Aug. 17, 2009
Publication date： Feb. 24, 2011
Summary：

【課題】 化学物質の発光を短時間で容易に評価することができる化学物質発光評価方法を提供する。【解決手段】 第一の化学物質に電荷を注入することにより、ラジカルカチオンである第二の化学物質に変化させる第一変化ステップと、ラジカルカチオンである第二の化学物質に電荷を再結合させることにより、励起ビラジカル構造を有する第三の化学物質に変化させる第二変化ステップと、励起ビラジカル構造を有する第三の化学物質が、基底ビラジカル構造を有する第四の化学物質に変化する際に発光した光を検出する測定ステップとを含む化学物質発光評価方法であって、第一変化ステップにおいて、第一の化学物質をチューブに入れるとともに、第一の化学物質が入れられたチューブにX線を照射することで、第一の化学物質に電荷を注入することを特徴とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

第一の化学物質に電荷を注入することにより、ラジカルカチオンである第二の化学物質に変化させる第一変化ステップと、 ラジカルカチオンである第二の化学物質に電荷を再結合させることにより、励起ビラジカル構造を有する第三の化学物質に変化させる第二変化ステップと、 励起ビラジカル構造を有する第三の化学物質が、基底ビラジカル構造を有する第四の化学物質に変化する際に発光した光を検出する測定ステップを含む化学物質発光評価方法であって、 前記第一変化ステップにおいて、第一の化学物質と溶媒とをチューブ内に入れるとともに、 第一の化学物質が入れられたチューブに、照射面積が0.5cm2以上2.0cm2以下となるX線を照射することで、第一の化学物質に電荷を注入することを特徴とする化学物質発光評価方法。

IPC (1)：

G01N 21/76

FI (1)：

G01N21/76

F-Term (6)：

2G054AA10 ,  2G054AB10 ,  2G054CB03 ,  2G054EA01 ,  2G054EB01 ,  2G054GA03