Pat
J-GLOBAL ID：201103035899901152
ラジオ・ルミネッセンスを利用したin-situ高耐久性高感度放射線照射領域解析方法
Inventor：
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,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (11)：
社本 一夫
, 小野 新次郎
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 平山 晃二
, 桜井 周矩
, 神田 藤博
, 田中 英夫
, 細川 伸哉
, 深澤 憲広
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003390372
Publication number (International publication number)：2005156158
Patent number：4281088
Application date： Nov. 20, 2003
Publication date： Jun. 16, 2005
Claim (excerpt)：
【請求項1】放射線蛍光特性を示す遷移金属を含んだ耐熱性ターゲットに放射線を照射し、そのときラジオ・ルミネッセンスにより遷移金属から発せられる蛍光の蛍光波長及び強度を観測することにより、放射線が照射されている部分の形状と放射線の強度とを測定する方法であって、放射線蛍光特性を示す遷移金属を薄膜により三次元的に含有させた金属酸化物の耐熱性ターゲットに放射線を照射して、発せられる蛍光を計測することを特徴とする方法。
IPC (5)：
G01N 21/62 ( 200 6.01)
, G01B 15/04 ( 200 6.01)
, G01T 1/20 ( 200 6.01)
, G21K 5/04 ( 200 6.01)
, H01J 37/252 ( 200 6.01)
G01N 21/62 A
, G01B 15/04
, G01T 1/20 K
, G21K 5/04 C
, H01J 37/252 B
, H01J 37/252 Z
Cited by applicant (3)
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特開平3-115957
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特開昭62-287133
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特開昭48-080089
Cited by examiner (6)
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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