Pat
J-GLOBAL ID:201103039240060326
電子内視鏡用画像処理装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
松岡 修平
, 荒木 佳幸
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010097621
Publication number (International publication number):2011224185
Application date: Apr. 21, 2010
Publication date: Nov. 10, 2011
Summary:
【課題】観察画像において異常部位が存在する領域を特定して表示する。【解決手段】電子内視鏡の撮像素子からの信号に画像処理を行って観察画像を生成する電子内視鏡用画像処理装置であって、撮像素子の各画素からの信号が、所定の輝度及び彩度以上であるか否かを判定する手段と、所定の輝度及び彩度以上であると判定された画素の画素値と、該画素の周辺画素の画素値の平均値との差が所定の閾値以上であるか否かを判定する手段と、観察画像の表示領域を分割する領域分割手段と、領域分割手段により分割された領域内において、所定の閾値以上であると判定された画素が、分割された領域を所定の割合以上占めるか否かを判定する手段と、所定の割合以上占めると判定された領域を、観察画像上に表示する領域表示手段とを有する電子内視鏡用画像処理装置を提供する。【選択図】図3
Claim (excerpt):
電子内視鏡の撮像素子からの信号に画像処理を行って観察画像を生成する電子内視鏡用画像処理装置であって、
前記撮像素子の各画素からの信号が、所定の輝度及び彩度以上であるか否かを判定する第1の判定手段と、
前記第1の判定手段により前記所定の輝度及び彩度以上であると判定された信号を出力する画素の画素値と、該画素の周辺画素の画素値の平均値との差が所定の閾値以上であるか否かを判定する第2の判定手段と、
観察画像の表示領域を分割する領域分割手段と、
前記領域分割手段により分割された領域内において、前記第2の判定手段により前記所定の閾値以上であると判定された画素が、該分割された領域を所定の割合以上占めるか否かを判定する第3の判定手段と、
前記第3の判定手段により前記所定の閾値以上である画素が前記所定の割合以上占めると判定された領域を、観察画像上に表示する領域表示手段と、を有する、
ことを特徴とする電子内視鏡用画像処理装置。
IPC (3):
A61B 1/04
, A61B 1/00
, G06T 1/00
FI (3):
A61B1/04 370
, A61B1/00 300D
, G06T1/00 290Z
F-Term (32):
4C061CC06
, 4C061HH51
, 4C061HH54
, 4C061NN05
, 4C061SS21
, 4C061WW08
, 4C061WW13
, 4C161CC06
, 4C161HH51
, 4C161HH54
, 4C161NN05
, 4C161SS21
, 4C161WW08
, 4C161WW13
, 5B057AA07
, 5B057CA01
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB01
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CE16
, 5B057CF04
, 5B057DA12
, 5B057DA16
, 5B057DB02
, 5B057DB06
, 5B057DB09
, 5B057DC04
, 5B057DC25
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