蛍光顕微鏡装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (5)：三好秀和 , 岩▲崎▼ 幸邦 , 伊藤正和 , 高橋俊一 , 高松俊雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010109527
Publication number (International publication number)：2011180570
Application date： May. 11, 2010
Publication date： Sep. 15, 2011
Summary：

【課題】目的とする蛍光を選択的に視野観察することが可能な蛍光顕微鏡装置を提供する。【解決手段】磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体1を含む試料16に励起光を照射し、蛍光体1の蛍光を観察する光学顕微鏡3と、電子スピン磁気共鳴を発生させる高周波磁場を試料16に照射する高周波磁場発生部5と、高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部7と、高周波磁場を変調しながら光学顕微鏡3で観察した試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれでサンプリング時間毎に検出する検出器9と、複数の画素の中から光強度の時系列変動が変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニット10とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体を含む試料に励起光を照射し、前記蛍光体の蛍光を観察する光学顕微鏡と、前記磁気共鳴を発生させる高周波磁場を前記試料に照射する高周波磁場発生部と、前記高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部と、前記高周波磁場を変調しながら前記光学顕微鏡で観察した前記試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれの位置でサンプリング時間毎に検出する検出器と、前記複数の画素の中から前記光強度の時系列変動が前記変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニットとを備えることを特徴とする蛍光顕微鏡装置。

IPC (2)：

G02B 21/06 , G01N 21/64

FI (3)：

G02B21/06 , G01N21/64 E , G01N21/64 F

F-Term (22)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043EA01 , 2G043FA01 , 2G043FA02 , 2G043FA03 , 2G043GA07 , 2G043GB13 , 2G043HA01 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043KA02 , 2G043KA05 , 2G043KA09 , 2G043LA03 , 2G043NA01 , 2H052AA09 , 2H052AB14 , 2H052AC04 , 2H052AD31 , 2H052AF02 , 2H052AF25

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

特開平4-292782
マルチチャンネル2次元分光方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-328918 Applicant：科学技術振興事業団

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

"OPTICALLY DETECTED MAGNETIC RESONANCE STUDIES OF COLLOIDAL SEMICONDUCTOR NANOCRYSTALS"
"Nanoscale imaging magnetometry with diamond spins under ambient conditions"

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