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J-GLOBAL ID:201103047490189173

電磁波検出装置、電磁波発生装置およびこれらを用いた時間領域分光装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 落合 稔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009256871
Publication number (International publication number):2011103321
Application date: Nov. 10, 2009
Publication date: May. 26, 2011
Summary:
【課題】検出または発生する電磁波を有効に増倍(増強)させる電磁波検出装置、電磁波発生装置およびこれらを用いた時間領域分光装置を提供する。【解決手段】屈折率の異なる2つの光学層を、電磁波が入射する入射軸方向に1組以上積層した第1電磁波増幅部2と、屈折率の異なる2つの光学層を、入射軸方向に1組以上積層した第2電磁波増幅部3と、入射軸方向において、第1電磁波増幅部2と第2電磁波増幅部3との間に介設した電磁波検出部4と、を備え、第1電磁波増幅部2における2つの光学層間の屈折率比と、第2電磁波増幅部3おける2つの光学層間の屈折率比と、が異なることを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
屈折率の異なる2つの光学層を、電磁波が入射する入射軸方向に1組以上積層した第1電磁波増幅部と、 屈折率の異なる2つの光学層を、前記入射軸方向に1組以上積層した第2電磁波増幅部と、 前記入射軸方向において、前記第1電磁波増幅部と前記第2電磁波増幅部との間に介設した電磁波検出部と、を備え、 前記第1電磁波増幅部における前記2つの光学層間の屈折率比と、前記第2電磁波増幅部おける前記2つの光学層間の屈折率比と、が異なることを特徴とする電磁波検出装置。
IPC (4):
H01L 31/026 ,  G01J 1/02 ,  G02F 1/35 ,  H01S 1/02
FI (4):
H01L31/08 L ,  G01J1/02 B ,  G02F1/35 ,  H01S1/02
F-Term (17):
2G065AA04 ,  2G065AB02 ,  2G065AB14 ,  2G065BA10 ,  2K002AB12 ,  2K002BA02 ,  2K002CA02 ,  2K002CA03 ,  2K002CA13 ,  2K002DA01 ,  2K002HA13 ,  5F088AB07 ,  5F088BA01 ,  5F088FA09 ,  5F088GA05 ,  5F088HA09 ,  5F088LA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • テラヘルツ光源
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2008-081487   Applicant:国立大学法人香川大学
  • 波長変換装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-068969   Applicant:富士ゼロックス株式会社
  • 発信装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-333112   Applicant:独立行政法人通信総合研究所

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