Pat

J-GLOBAL ID：201103047515169482

吸光度測定装置及び吸光度測定方法

Inventor： 中尾 素直
Applicant, Patent owner： 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
Agent (3)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003357318
Publication number (International publication number)：2005121499
Patent number：4220879
Application date： Oct. 17, 2003
Publication date： May. 12, 2005
Claim (excerpt)：

【請求項1】光源と、 前記光源から発生された光線の光路を2分割する光学系と、 前記光学系により2分割された一方の光路中に配置された第1の試料セルと、 前記第1の試料セルを透過した光線を検出する第1の光検出器と、 前記光学系により2分割された他方の光路中に配置された第2の試料セルと、 前記第2の試料セルを透過した光線を検出する第2の光検出器と、 前記第2の試料セルを当該試料セルに照射される光線の光路を横切る方向に駆動する駆動部とを含み、 前記第1の試料セルは試料中を透過する光線の光路長が固定の試料セルであり、前記第2の試料セルは上部が開放した四角柱状の容器の内部を当該四角柱の対角線位置に設けた隔壁によって2分割した形状を有し、前記駆動部による駆動量に応じて試料中を透過する光線の光路長が連続的に変化する試料セルであることを特徴とする吸光度測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/59 ( 200 6.01) ,  G01N 21/03 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 21/59 Z ,  G01N 21/03 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭61-133839
  
• 特開平3-103752
  
• 分光光度計用セル
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-118120   Applicant：株式会社日立製作所