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J-GLOBAL ID：201103051658455793

電池劣化推定方法、電池容量推定方法、電池容量均等化方法、および電池劣化推定装置

Inventor：
冨永 由騎

About 冨永 由騎

, 
藤本 純和

About 藤本 純和


Applicant, Patent owner：
本田技研工業株式会社

About 本田技研工業株式会社


Agent (2)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010091726
Publication number (International publication number)：2011220900
Application date： Apr. 12, 2010
Publication date： Nov. 04, 2011
Summary：
【課題】二次電池の使用条件が異なっても、通電電流量の2分の1乗則に基づいて二次電池の容量劣化を一義的に推定できるようにする。【解決手段】二次電池の容量劣化に影響する複数の使用条件のそれぞれに対応して、二次電池に流れる電流量を所定の期間に亘って積算し、単一の使用条件のときの二次電池の劣化速度に対する複数の使用条件における二次電池の劣化係数を算出し、積算した電流積算値を劣化係数によって補正し、単一の使用条件における電流積算値に換算し、換算した電流積算値と単一の使用条件における劣化速度とによって二次電池の容量劣化を推定する。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
二次電池の容量劣化のレベルを推定する電池劣化推定方法であって、 前記二次電池の容量劣化に影響する複数の使用条件のそれぞれに対応して、その二次電池に流れる電流量、または経過時間を所定の期間に亘って積算する第1の手順と、 単一の使用条件のときの前記二次電池の劣化速度に対する前記複数の使用条件における前記二次電池の劣化速度の比を示す劣化係数を、対応する複数の使用条件のそれぞれについて算出する第2の手順と、
IPC (4)：
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/42 ,  H02J 7/00
FI (5)：
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H01M10/42 P ,  H02J7/00 Y ,  H02J7/00 M
F-Term (22)：
2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB11 ,  2G016CB21 ,  2G016CB22 ,  2G016CB31 ,  2G016CB32 ,  2G016CC07 ,  2G016CC13 ,  2G016CC21 ,  2G016CC27 ,  2G016CF06 ,  5G503AA01 ,  5G503BA01 ,  5G503BB02 ,  5G503EA05 ,  5G503EA08 ,  5G503GD06 ,  5H030AS11 ,  5H030FF41 ,  5H030FF42 ,  5H030FF52
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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