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J-GLOBAL ID：201103051812784797
混合試験評価システム装置及び方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
平山 一幸
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003041916
Publication number (International publication number)：2004251734
Patent number：3876347
Application date： Feb. 19, 2003
Publication date： Sep. 09, 2004
Claim (excerpt)：
【請求項1】 種類の異なる物質を接触させて融解させ、その結果生じた混合界面の物性を評価する混合試験の評価システム装置であって、
その物質にとって電子遷移によるエネルギー吸収のないレーザ光を発振するレーザ光源と、
上記混合界面を跨ぐよう、上記レーザ光源から出力されたレーザ光を拡大するビームエキスパンダと、
上記混合試験の対象となるサンプルを固定すると共に、温度コントローラによりそのサンプルの温度を制御可能とするサンプルホルダと、
上記サンプルからの透過光の強度を測定するマルチチャンネル型の光検出器とを具備し、
上記サンプルの任意の温度状態の下において、このサンプルの混合界面を含む各箇所に対して、上記ビームエキスパンダにより拡大されたレーザ光を同時に照射し、上記光検出器でその箇所毎に、透過光強度を測定することを特徴とする混合試験評価システム装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Article cited by the Patent：
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