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J-GLOBAL ID：201103056592194596

染色体検査学習装置、染色体検査学習方法、及び染色体検査学習プログラム

Inventor：
小木 美恵子

About 小木 美恵子

, 
鈴木 章夫

About 鈴木 章夫

, 
吉澤 達也

About 吉澤 達也


Applicant, Patent owner：
株式会社アドアテック

About 株式会社アドアテック


Agent (2)： 木森 有平 ,  浅野 典子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010099270
Publication number (International publication number)：2011227403
Application date： Apr. 22, 2010
Publication date： Nov. 10, 2011
Summary：
【課題】 極めて高い学習効果を実現することができる染色体検査学習装置を提供する。【解決手段】 染色体検査学習装置は、統計学的に毎回異なる問題となり且つ正解が少なくとも1つ含まれるようにサンプルパターンデータを無作為に選択し、各サンプルパターンデータの位置及び/又は方位を問題毎に異ならせるように、選択したサンプルパターンデータを位置的及び/又は方位的にシャッフルして表示部にランダムに表示させ、表示したサンプルパターンデータについて学習者が行った解答の正誤判断を行い、判断した正誤に基づいて学習者の成績を評価して表示部に表示させる。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
臨床検体データに基づいて染色体検査を行う染色体技術者を育成するために必要な学習を行う染色体検査学習装置であって、 少なくとも、学習者に提示する問題を表示する問題表示領域と、前記学習者による解答を表示する解答表示領域とを表示する表示手段と、 前記学習者に提示する問題として予め用意された染色体のサンプルパターンデータを格納するサンプルパターンデータ格納手段と、 前記サンプルパターンデータ格納手段に格納されたサンプルパターンデータを無作為に選択する選択手段と、 前記問題表示領域に、前記選択手段によって選択されたサンプルパターンデータをランダムに表示させる問題表示制御手段と、 前記問題表示領域に表示されたサンプルパターンデータについて、前記学習者が前記解答表示領域に解答入力を行う解答入力手段と、 前記解答入力手段を介して行われた前記学習者による解答の正誤判断を行う正誤判断手段と、 前記正誤判断手段によって判断された正誤に基づいて前記学習者の成績を評価する成績評価手段とを備え、 前記問題表示制御手段は、各サンプルパターンデータの位置及び/又は方位を問題毎に異ならせるように、前記選択手段によって選択されたサンプルパターンデータを位置的及び/又は方位的にシャッフルして前記問題表示領域に表示させることを特徴とする染色体検査学習装置。
IPC (1)：
G09B 7/02
FI (1)：
G09B7/02
F-Term (6)：
2C028AA10 ,  2C028BB04 ,  2C028BC01 ,  2C028BC02 ,  2C028BD03 ,  2C028CA12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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