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J-GLOBAL ID：201103058612452441

結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラム

Inventor： 尾崎 真
Applicant, Patent owner： みずほ情報総研株式会社
Agent (2)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010051599
Publication number (International publication number)：2011186796
Application date： Mar. 09, 2010
Publication date： Sep. 22, 2011
Summary：

【課題】複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。【解決手段】アプリケーション実行環境上で必要な共通制御処理を行なう共通制御モジュールを加工して生成された汎用ドライバ211は、共通制御処理の実行後、外部インターフェイス10から取得したモジュール名の検証モジュール24をコールする。この検証モジュール24は、DB初期設定後にテスト対象の個別業務モジュール22をコールする。個別業務モジュール22は、アプリケーション実行環境と同一のテスト環境において、テストデータ及びDB設定値を用いて個別業務処理を実行する。個別業務モジュール22からの出力値を取得した検証モジュール24は、出力結果を検証し、問題がある場合には入出力値のダンプ出力処理を実行する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

モジュールが処理に用いるデータを一時的に記憶するデータベースバッファエリアと、 被テストモジュールに対応させるとともに、テスト仕様書から生成されたデータベース設定値、テストデータ、予測結果とを記憶する検証モジュールと、 前記検証モジュールを起動するドライバとを備えた結合テストシステムであって、 前記ドライバが、被テストモジュールを直接起動する検証モジュールを起動し、 前記検証モジュールが、 前記被テストモジュール及び前記被テストモジュールと連動する関連モジュールがテストにおいて用いるデータベース設定値を一時的にデータベースバッファエリアに設定し、 前記被テストモジュールに対してテストデータを入力して、前記データベースバッファエリアに設定されたデータベース設定値を用いてテスト動作を実行させ、 前記関連モジュールと連動した前記被テストモジュールから出力された出力値を取得し、この出力値と前記予測結果とを照合し、照合結果を出力することを特徴とする結合テストシステム。

IPC (1)：

G06F 11/28

FI (1)：

G06F11/28 340A

F-Term (5)：

5B042GA05 ,  5B042GB03 ,  5B042HH12 ,  5B042HH13 ,  5B042HH49

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• プログラムテスト装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-059343   Applicant：株式会社日立製作所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• JUnit+DbUnitによるフレームワークを使ったテストの実践
• AspectJによる仮想モックオブジェクト
• DBアプリケーションによるパフォーマンス測定で分かったJBoss 3.0の実力と現場での使いどころ