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J-GLOBAL ID：201103058901790908

クロマトグラフ質量分析用データ処理装置

Inventor： 川名 修一
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 特許業務法人京都国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010114617
Publication number (International publication number)：2011242255
Application date： May. 18, 2010
Publication date： Dec. 01, 2011
Summary：

【課題】同定に利用される抽出イオンクロマトグラム(EIC)上のピークが適切なものであるか否かの目視の確認を、容易に且つ迅速に行えるように支援する。【解決手段】目的化合物の保持時間付近における定量イオンの実測EIC121及び確認イオンの実測EIC122を、重ねてクロマトグラム表示領域12内に表示する。また、目的化合物における定量イオンの強度に対する確認イオンの強度の比を表す確認イオン比の標準値に対応した標準中心線123と、確認イオンの強度の許容幅を示す上限線124及び下限線125とをECIに重ねて表示する。分析者は確認イオンのEICのピークトップが上限線124と下限線125との間に収まるか否かを判断することで、同定に利用されたピークが目的化合物由来のものか否か判断できる。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

クロマトグラフ質量分析により時間経過に伴って繰り返し収集されたデータに基づいて、特定の質量電荷比に対する抽出イオンクロマトグラムを作成して表示画面上に表示するクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において、 a)各種の成分について、保持時間、定量イオンと確認イオンの質量電荷比、及び、定量イオンに対する確認イオンの強度の比を示す確認イオン比の標準値、を格納しておく標準情報記憶手段と、 b)前記標準情報記憶手段に格納されている各種成分の中で確認対象として指定された対象成分の実測データに基づいて、該対象成分の定量イオンと確認イオンの抽出イオンクロマトグラムを作成して同一グラフ枠内に重ねて表示するクロマトグラム表示処理手段と、 c)前記クロマトグラム表示処理手段により抽出イオンクロマトグラムが表示されている確認イオンに対応した前記対象成分の確認イオン比の標準値を前記標準情報記憶手段から取得し、該標準値を示す情報を表示されている抽出イオンクロマトグラム上にグラフィカルに表示する付加表示処理手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (1)：

G01N27/62 Y

F-Term (6)：

2G041CA01 ,  2G041EA06 ,  2G041HA01 ,  2G041MA04 ,  2G041MA05 ,  2G041MA10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭59-164954
  
• クロマトグラム表示処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-343004   Applicant：株式会社島津製作所
• 特開平3-105248