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J-GLOBAL ID：201103062954736228
糖鎖断片化パターン解析装置および糖鎖断片化パターン解析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2004240845
Publication number (International publication number)：2006058151
Patent number：4392487
Application date： Aug. 20, 2004
Publication date： Mar. 02, 2006
Claim (excerpt)：
【請求項1】 糖鎖マススペクトラのためにイオン化された糖鎖の断片化パターンを分子構造に基づく計算により解析するための糖鎖断片化パターン解析装置であって、
陽イオンの付加によりイオン化された糖鎖の最適化構造を計算する最適化構造計算手段と、
前記最適化構造計算手段による計算結果から、前記糖鎖内の切断箇所の候補となる複数の候補結合のそれぞれについて、結合強度に関連する複数種類の結合特性パラメータを抽出する結合特性パラメータ抽出手段と、
前記結合特性パラメータ抽出手段にて抽出された複数種類の結合特性パラメータのそれぞれを結合特性スコアへと、複数の候補結合における同一種類の結合特性パラメータの大小関係に結合特性スコアが対応するように変換するパラメータ変換手段と、
前記複数種類の結合特性パラメータに対応する複数種類の結合特性スコアのそれぞれの結合強度に対する寄与を表す重み情報を記憶する重み情報記憶手段と、
前記重み情報記憶手段から前記重み情報を読み出し、前記糖鎖の断片化パターンを表す情報として、各候補結合における複数種類の結合特性スコアの総合スコアを、読み出した重み情報によって前記複数種類の結合特性パラメータが重み付けされるように求める総合スコア計算手段と、
を備えることを特徴とする糖鎖断片化パターン解析装置。
IPC (1)：
FI (2)：
G01N 27/62 V
, G01N 27/62 D
