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J-GLOBAL ID：201103069505195977

顕微鏡装置及び観察位置再現方法

Inventor：
横町 祐樹

About 横町 祐樹


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (1)： 大菅 義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010047179
Publication number (International publication number)：2011180538
Application date： Mar. 03, 2010
Publication date： Sep. 15, 2011
Summary：
【課題】円形標本の観察位置を高精度に再現する。【解決手段】顕微鏡装置は、円形標本103の撮像画像に基づいて当該円形標本103の中心位置の座標を算出する中心位置算出部201と、円形標本103の撮像画像から、当該円形標本103の中心位置の座標に基づいて所定領域のパターン画像を認識するパターン認識部202と、第1の期間に得られた円形標本103の撮像画像からパターン認識部202により認識された第1のパターン画像と第1の期間よりも後の第2の期間に得られた円形標本103の撮像画像からパターン認識部202により認識された第2のパターン画像との間の回転ずれ角を算出する回転ずれ角算出部204と、回転ずれ角に基づいて円形標本103の回転ずれを補正し、第1の期間における円形標本103の位置を再現する位置再現部205とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
観察像を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により得られた円形標本の画像に基づいて当該円形標本の中心位置の座標を算出する中心位置算出手段と、 前記撮像手段により得られた前記円形標本の画像から、前記中心位置算出手段により算出された中心位置の座標に基づいて所定領域のパターン画像を認識する認識手段と、 前記認識手段により認識されたパターン画像を記憶する記憶手段と、 第1の期間に前記撮像手段により得られた前記円形標本の画像から前記認識手段により認識された第1のパターン画像と前記第1の期間よりも後の第2の期間に前記撮像手段により得られた前記円形標本の画像から前記認識手段により認識された第2のパターン画像との間の回転ずれ角を算出する回転ずれ角算出手段と、 前記回転ずれ角算出手段により算出された回転ずれ角に基づいて前記円形標本の回転ずれを補正し、前記第1の期間における前記円形標本の位置を再現する位置再現手段と、 を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
IPC (4)：
G02B 21/36 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G06T 1/00
FI (5)：
G02B21/36 ,  G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G06T1/00 290Z ,  G01B11/00 D
F-Term (42)：
2F065AA03 ,  2F065AA12 ,  2F065AA14 ,  2F065AA20 ,  2F065AA31 ,  2F065BB03 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN20 ,  2F065PP05 ,  2F065PP12 ,  2F065PP13 ,  2F065PP24 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR09 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065TT02 ,  2H052AF03 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25 ,  5B057AA07 ,  5B057BA11 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CD03 ,  5B057CF05 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC32
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (11)
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