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J-GLOBAL ID：201103073140160220

眼科撮影装置

Inventor：
羽根渕 昌明

About 羽根渕 昌明


Applicant, Patent owner：
株式会社ニデック

About 株式会社ニデック


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011056784
Publication number (International publication number)：2011212432
Application date： Mar. 15, 2011
Publication date： Oct. 27, 2011
Summary：
【課題】 眼底断層像と前眼部断層像の両方を鮮明に撮影可能にする。【解決手段】 光源部から出射された光束を測定光束と参照光束に分け、測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、測定光束の進行方向を変える光スキャナと、受光素子から出力される受光信号を処理して被検眼の所定部位の断層像を取得する制御手段と、を備える眼科撮影装置において、光源部は、被検眼の眼底断層像を得るために設けられた第1波長光を発生する第1の光源と、被検眼の前眼部断層像を得るために設けられた第2波長光を発生する第2の光源と、を有し、制御手段は、第1の光源を制御し、第1の光源による第1波長光を用いて被検眼の眼底断層像を取得する一方、第2の光源を制御し、第2の光源による第2波長光を用いて被検眼の前眼部断層像を取得する。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
光源部から出射された光束を測定光束と参照光束に分け、測定光束を被検眼の所定部位に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、前記所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、 前記干渉光学系の光路中に配置され,被検眼の所定部位上で横断方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、 前記干渉光学系及び光スキャナを制御し、前記受光素子から出力される受光信号を処理して被検眼の所定部位の断層像を取得する制御手段と、を備える眼科撮影装置において、 前記光源部は、 被検眼の眼底断層像を得るために設けられた第1波長光を発生する第1の光源と、 被検眼の前眼部断層像を得るために設けられた第2波長光を発生する第2の光源と、を有し、 前記制御手段は、前記第1の光源を制御し、前記第1の光源による第1波長光を用いて被検眼の眼底断層像を取得する一方、前記第2の光源を制御し、前記第2の光源による第2波長光を用いて被検眼の前眼部断層像を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
IPC (2)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17
FI (3)：
A61B3/10 R ,  G01N21/17 630 ,  G01N21/17 625
F-Term (23)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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