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J-GLOBAL ID：201103078336061817
イオンビームを用いた炭素分析方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊東 哲也
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2003357169
Publication number (International publication number)：2005121493
Patent number：4242748
Application date： Oct. 17, 2003
Publication date： May. 12, 2005
Claim (excerpt)：
【請求項1】12C(p,p’)12C*反応からの散乱陽子と12C*からのガンマ線を同時計測することにより試料中の炭素に由来する事象のみを選択し、散乱陽子のエネルギースペクトルから炭素の深さ分布を定量的に求めることを特徴とするイオンビームを用いた炭素分析方法。
IPC (1)：
FI (1)：
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