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J-GLOBAL ID：201103078939405596

粒径測定方法

Inventor： 南 茂夫 ,  河田 聡 ,  笹木 敬司
Applicant, Patent owner： 南 茂夫 ,  河田 聡 ,  笹木 敬司 ,  大塚電子株式会社
Agent (1)： 亀井 弘勝 (外1名)
Gazette classification：特許公告
Application number (International application number)：1987074793
Publication number (International publication number)：1988238536
Application date： Mar. 27, 1987
Publication date： Oct. 04, 1988
Claim (excerpt)：

【請求項1】レーザ光が照射された測定対象物からのレーザ散乱光の時系列データに基いて、自己相関関数等の2次関数を介在させることなく式(但し、n(i△t)はi△t時の光子時系列、W(i△t)は白色ガウス過程、akは自己回帰係数、Mは次数である)に基いて自己回帰係数akを算出し、算出された自己回帰係数akに基いて定まる固有方程式ZM-a1ZM-1-a2ZM-2-...-aM=0の根Z1,Z2,...,ZMを算出し、算出された根Z1,Z2,...,ZMに基いて式dm=-2α△t/lnZm(但し、m=1,2,...,M、α=16πkTn2sin2(θ/2)/3ηλ2、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、nは溶媒の屈折率、θは散乱角、ηは粘性率、λはレーザ光の波長、dmはストークス粒径である)により測定対象物の粒径dmを得ることを特徴とする粒径測定方法。

IPC (1)：

G01B 11/08 Z