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J-GLOBAL ID：201103079403513295

変位計測装置

Inventor： 宮田 康一 ,  立田 勇一 ,  新田 勝広 ,  牧野 秀和 ,  林 秀哉 ,  木津 博行 ,  鎌田 睦史
Applicant, Patent owner： 大成建設株式会社 ,  中大実業株式会社
Agent (3)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫 ,  町田 能章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009193097
Publication number (International publication number)：2011043464
Application date： Aug. 24, 2009
Publication date： Mar. 03, 2011
Summary：

【課題】簡易かつ安価に構成することができ、かつ、3方向の変位を計測することを可能とした変位計測装置を提案する。【解決手段】第一の構造体B1と第二の構造体B2との結合部Jにおける変位を測定する変位計測装置1であって、結合部Jの目開き方向に沿って配置された目開き目盛り10と、目開き盛り1と直交するように第一の構造体B1に固定された横目違い目盛り20と、目開き目盛り10および横目違い目盛り20と直交するように第二の構造体B2に固定された縦目違い目盛り30と、を備えており、横目違い目盛り20は、第一の構造体B1の表面に対して垂直に配設されており、縦目違い目盛り30は、目開き目盛り10と横目違い目盛り20とが直交する面に対して垂直に配設されている。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

第一の構造体と第二の構造体との結合部における変位を測定する変位計測装置であって、 前記結合部の目開き方向に沿って配置された第一目盛り部と、 前記第一目盛り部と直交するように前記第一の構造体に固定された第二目盛り部と、 前記第一目盛り部および前記第二目盛り部と直交するように前記第二の構造体に固定された第三目盛り部と、を備えており、 前記第二目盛り部は、前記第一の構造体の表面に対して垂直に配設されており、 前記第三目盛り部は、前記第一目盛り部と前記第二目盛り部とが直交する平面に対して垂直に配設されていることを特徴とする、変位計測装置。

IPC (3)：

G01B 5/30 ,  G01C 15/00 ,  G01B 3/04

FI (3)：

G01B5/30 ,  G01C15/00 102Z ,  G01B3/04

F-Term (14)：

2F061AA04 ,  2F061FF74 ,  2F061JJ01 ,  2F061JJ08 ,  2F061LL00 ,  2F061VV08 ,  2F062AA02 ,  2F062AA03 ,  2F062BC59 ,  2F062EE64 ,  2F062FF12 ,  2F062GG02 ,  2F062LL03 ,  2F062MM06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 亀裂の3次元変化を測定する装置及び演算する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-125006   Applicant：日本工営株式会社
• 変位検知装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-329709   Applicant：日本工営株式会社