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J-GLOBAL ID:201103081365842187
U,Th分析用標準試料およびその製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):1992262722
Publication number (International publication number):1994088771
Patent number:2805268
Application date: Sep. 07, 1992
Publication date: Mar. 29, 1994
Claim (excerpt):
【請求項1】少なくともアルカリ金属元素の濃度が1ppm以下であるシリカ粒子を担持体として、濃度がそれぞれ20ppb以下の任意の領域で、かつ、バラツキが±15%以下の範囲に制御されたUおよび/またはThを含ませたことを特徴とする、U,Th分析用標準試料。
IPC (2):
G01N 1/00 102
, G01N 31/00
FI (3):
G01N 1/00 102 B
, G01N 31/00 S
, G01N 31/00 Y
Patent cited by the Patent:
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