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J-GLOBAL ID：201103082127592896

X線成分計測装置

Inventor： 三澤 雅樹 ,  林 和彦 ,  高橋 淳子
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Agent (3)： 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  伊坪 公一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009173447
Publication number (International publication number)：2011024773
Application date： Jul. 24, 2009
Publication date： Feb. 10, 2011
Summary：

【課題】複数のエネルギー帯のX線を用いて測定対象の成分を計測できるとともに、測定対象に応じて識別すべきエネルギー帯を容易に変更できるX線成分計測装置を提供する。【解決手段】X線発生器10から照射されたX線は、計測対象30を透過して、X線検出器20に入射する。X線検出器20は、量子計数方式の検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する。X線検出器20により計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出することができる。しきい値は、測定対象に応じて変更でき、しきい値を3個以上にとると、4種類以上の成分比を算出することができる。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

計測対象にX線を照射するX線発生器と、 前記計測対象を透過したX線が入射するX線検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する画素を有するX線検出器と、 前記計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出する成分比算出手段と、 を備えることを特徴とするX線成分計測装置。

IPC (2)：

A61B 6/00 ,  G01N 23/04

FI (2)：

A61B6/00 333 ,  G01N23/04

F-Term (28)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA12 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001EA03 ,  2G001FA03 ,  2G001FA06 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001JA04 ,  2G001JA09 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001KA11 ,  2G001LA01 ,  2G001LA05 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001SA02 ,  4C093AA01 ,  4C093CA16 ,  4C093DA06 ,  4C093EA07 ,  4C093FD09 ,  4C093FF25